一般而言，X-射線熒光法測(cè)量鍍膜厚度基本上需符合下述的要求：
1. 不破壞的測(cè)量下具高精密度。
2. 極小的測(cè)定面積。
3. 中間鍍膜及素材的成份對(duì)測(cè)量值不產(chǎn)生影響。
4. 同時(shí)且互不干擾的測(cè)量上層及中間鍍膜 。
5. 同時(shí)測(cè)量雙合金的鍍膜厚及成份。
而X-射線螢光法就可在不受素材及不同中間膜的影響下得到高精密度的測(cè)量。
X-射線熒光法測(cè)量鍍膜厚度
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07-12-20 16:49
] 太平洋汽車網(wǎng)
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