觀察反光鏡納米粒子形貌可借助多種技術(shù)手段。掃描電鏡放大倍率與分辨率高、景深大等特點(diǎn)，能清晰呈現(xiàn)納米粒子形貌；透射電子顯微鏡可提供直觀的粒徑和形貌信息；原子力顯微鏡擅長觀察納米粒子的三維形貌與表面細(xì)節(jié)。這些技術(shù)各有優(yōu)勢與局限，掃描電鏡樣品制備簡單但可能存在電荷積累問題，透射電鏡制樣復(fù)雜，原子力顯微鏡觀察范圍有限。它們?yōu)榧{米粒子形貌觀察提供了多樣選擇。

掃描電鏡通過發(fā)射電子束掃描樣品表面，利用背散射電子和二次電子成像，能清晰展現(xiàn)納米粒子的二維形態(tài)，其放大倍率可從幾倍到幾十萬倍，分辨率可達(dá)納米級別，大景深讓凹凸不平的納米粒子表面都能清晰成像。不過，在掃描過程中，樣品可能會積累電荷，影響成像質(zhì)量。

透射電子顯微鏡則是讓電子束穿透樣品來成像，可提供納米粒子的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、粒徑大小和形貌等直觀信息。它能觀察到納米尺度的微小結(jié)構(gòu)，分辨率極高。然而，其制樣過程較為復(fù)雜，需要將樣品制成很薄的切片，以保證電子束能順利穿透。

原子力顯微鏡的獨(dú)特之處在于基于原子間相互作用力來檢測樣品表面形貌。工作時，微懸臂一端固定，另一端針尖與樣品表面輕觸，通過控制原子間微弱排斥力恒定，使微懸臂隨作用力等位面起伏，再利用光學(xué)檢測法測得微懸臂位置變化，進(jìn)而獲取樣品表面形貌信息。它能呈現(xiàn)納米粒子的三維形貌和表面細(xì)節(jié)，但觀察范圍相對有限，且數(shù)據(jù)統(tǒng)計性不足。

此外，還有寬視場光學(xué)成像技術(shù)，通過散射光的偏振各向異性測量來恢復(fù)單個納米粒子的長寬比和取向，單次偏振旋渦強(qiáng)度映射方法可對大量納米顆粒進(jìn)行表征。

總之，多種技術(shù)手段為反光鏡納米粒子形貌觀察提供了全面的視角。不同技術(shù)在實(shí)際應(yīng)用中相互補(bǔ)充，科研人員可根據(jù)具體需求和樣品特點(diǎn)，靈活選擇合適的方法，以深入了解反光鏡納米粒子的形貌特征，推動相關(guān)領(lǐng)域的研究與發(fā)展 。

（圖/文/攝：太平洋汽車 整理于互聯(lián)網(wǎng)）